Bezčipové RFID transpondéry pro senzorové aplikace

Abstract

Tato práce analyzuje vlastnosti několika variant bezčipových odražeče. dipólového typu z hlediska efektivní odrazné plochy (RCS), šířky pásma, činitele jakosti, výšky rezonanční špičky resp. hloubky rezonančního propadu, elektrické velikosti a citlivosti na změnu permitivity, popř. vodivosti citlivé vrstvy umístěné v jejich blízkosti (přítomnost chemické látky). Navrženy byly úpravy vybraných struktur (umístění odra-žeče nad zemní rovinu, umístění odražeče do středu čtvercové smyčky) vhodné pro zvýšení úrovně RCS, zvýšení výšky rezonanční špičky resp. hloubky rezonančního propadu a zvýšení citlivosti na změnu permitivity. Cílem práce bylo nalézt strukturu odražeče, která má dostatečnou výšku rezonanční špičky resp. hloubku rezonančního propadu, aby při měření byla bezpečně detekovatelná, a která projevuje nejvýraznější citlivost na změnu permitivity, popř. vodivosti citlivé vrstvy umístěné v jejich blízkosti. U odražeče splňujícího tyto podmínky byla udělána parametrická studie, na jejímž základě byl výsledný návrh vyroben a ověřen měřením ve vlnovodu.

This work analyzes the properties of several varieties of chipless scatterer of the dipole type in terms of the radar cross section level, respectively depth of resonance process, electrical sizes and sensitivity to change of permittivity or conductivity of a sensitive layer located near them (presence of chemicals). Modifications of selected structures were proposed (the method of the reflector above the ground plane, suitable for increasing the RCS level, increasing the height of the resonant peak) the depth of the resonance process and increase the sensitivity to change of permittivity. The aim of this work was to and the structure of the scatterer, which has a sufficient resonance peak height and / or the resonance peak the depth of the resonance sink to make it safely detectable during the measurement, and which exhibits the most pronounced sensitivity to change in permittivity and / or resistance conductivity of the sensitive layer placed in their vicinity. A parametric study was performed on a reflector meeting these conditions, on the basis of which the resulting design was manufactured and verified by measurement in the waveguide.