Zobrazit minimální záznam

Study of Potential Induced Degradation (PID) on Thin Film a-Si:H modules



dc.contributor.advisorFinsterle Tomáš
dc.contributor.authorBréda Maroš
dc.date.accessioned2016-06-05T09:43:47Z
dc.date.available2016-06-05T09:43:47Z
dc.date.issued2016-05-26
dc.identifierKOS-594872787705
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/64860
dc.description.abstractTáto práca sa zaoberá štúdiou potenciálom indukovanej degradácie na tenkovrstvých a-Si:H moduloch. V teoretickej časti postupne popisuje princípy, parametre a technológie fotovoltaického článku a panelu. Ďalej sú objasnené metódy používané k diagnostike fotovoltaických panelov a spôsoby ich degradácie. V praktickej časti práca skúma a simuluje samotnú potenciálom indukovanú degradáciu na fotovoltaických moduloch. Výsledky meraní sú zhodnotené v záverečnej časti.cze
dc.description.abstractThis thesis is focused on study of potential induced degradation on thin film a-Si:H mo-dules. The theoretical part describes principles, parameters and technology of photovol-taic cell and panel. The next part clarifies methods use for diagnostic of photovoltaic modules and ways of degradation. Practical part is devoted to simulation of potential induced degradation of photovoltaic modules. The evalution of results is provided in final chapter.eng
dc.language.isoSLO
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.publisherCzech Technical University in Prague. Computing and Information Centre.eng
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfeng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfcze
dc.subjectFotovoltaický článok, tenkovrstvé fotovoltaické panely, potenciálom indukovaná degra-dácia, flash test, elektroluminiscencia, impedančná spektroskopiacze
dc.subjectPhotovoltaic cell, thin film solar panels, potential induced degradation, flash test, elec-troluminescence, impedance spectroscopyeng
dc.titleStudium "Potential Induced Degradation" (PID) na tenkovrstvých a-Si:H modulechcze
dc.titleStudy of Potential Induced Degradation (PID) on Thin Film a-Si:H moduleseng
dc.typediplomová prácecze
dc.typemaster thesiseng
dc.date.accepted
dc.contributor.refereeHaasz Vladimír
theses.degree.disciplinecze
theses.degree.grantorkatedra měřenícze
theses.degree.programmeInteligentní budovycze


Soubory tohoto záznamu




Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam