Hledat
Zobrazují se záznamy 1-2 z 2
Spolehlivé architektury FPGA, Reliable FPGA Architecture
; Vedoucí práce: Schmidt Jan; Oponent práce: Drutarovský Miloš (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2019-05-28)
fields of electronics. The most prevalent type is SRAM-based, which uses static RAM cells to store its configuration. The inherent drawback of this technology is its susceptibility to Single Event Effects. The Single Event ...
Testovatelnost a fyzická bezpečnost: řešení na úrovni standardních buněk, Testability and Physical Security:The Cell-Level Approach
; Vedoucí práce: Fišer Petr; Oponent práce: Renovell Michel (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2022-01-14)
Reliability, testability, and security belong to the most signifcant digital design challenges. Notable testability and security problems originate at the physical level, while the solutions may be implemented at higher ...