Testovatelnost a fyzická bezpečnost: řešení na úrovni standardních buněk
Testability and Physical Security:The Cell-Level Approach
Typ dokumentu
disertační prácedoctoral thesis
Autor
Jan Bělohoubek
Vedoucí práce
Fišer Petr
Oponent práce
Renovell Michel
Studijní obor
InformatikaStudijní program
InformatikaInstituce přidělující hodnost
katedra číslicového návrhuPráva
A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmlVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html
Metadata
Zobrazit celý záznamAbstrakt
Reliability, testability, and security belong to the most signifcant digital design challenges. Notable testability and security problems originate at the physical level, while the solutions may be implemented at higher levels. This dissertation thesis deals with low-level approaches addressing the high-level design problems, namely the problem of the oine test length and fault coverage, and the problem of the physical security. The proposed solutions are based on enhanced CMOS structures. This dissertation thesis includes also a vulnerability analysis of the conventional CMOS circuit static power and established dynamic power countermeasures such as WDDL or SecLib. A particular contribution touches also on the security-reliability interplay. Reliability, testability, and security belong to the most signifcant digital design challenges. Notable testability and security problems originate at the physical level, while the solutions may be implemented at higher levels. This dissertation thesis deals with low-level approaches addressing the high-level design problems, namely the problem of the oine test length and fault coverage, and the problem of the physical security. The proposed solutions are based on enhanced CMOS structures. This dissertation thesis includes also a vulnerability analysis of the conventional CMOS circuit static power and established dynamic power countermeasures such as WDDL or SecLib. A particular contribution touches also on the security-reliability interplay.
Zobrazit/ otevřít
Kolekce
Související záznamy
Zobrazují se záznamy příbuzné na základě názvu, autora a předmětu.
-
Predikce a analýza spolehlivosti kritických systémů
Autor: Daňhel Martin; Vedoucí práce: Kubátová Hana; Oponent práce: Strnadel Josef
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2018-08-28)This dissertation thesis deals with dependability issues: methods for reliability, availability, and safety properties prediction to guarantee their requested level before proceeding to the manufacturing process or before ... -
Měření a monitorování spotřeby energie v letectví: Diagnostika a detekce degradací
Autor: Ondřej Hanuš; Vedoucí práce: Šmíd Radislav; Oponent práce: Bréda Róbert
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2022-06-02)Detekce a diagnostika závad jsou důležitými prvky monitorovacích systémů. Jejich hlavním úkolem je zvýšit bezpečnost a spolehlivost sledovaného zařízení a včasně vyhodnotit jeho neobvyklé chování. V posledních desetiletích ... -
Series Arc Fault Detection in the Presence of Household Electrical Loads
Autor: Husain Amna Farooq; Vedoucí práce: Kyncl Jan; Oponent práce: Bryscejn Jan
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2017-05-26)Elektrický oblouk způsobený poškozeným elektrickým vedením může způsobit požár. Fakt, že elektrické oblouky způsobují požáry podporuje výzkum a vývoj jejich detekce. Diplomová práce se zabývá studiem a analýzou sériových ...