• Využití mikroskopu atomárních sil AFM Solver Next pro biomedicínu 

      Autor: Lebeda Tomáš; Vedoucí práce: Jelínek Miroslav; Oponent práce: Kratochvílová Irena
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2009-08-28)
      Tato práce se zabývá principem Mikroskopu atomárních sil (AFM) a popsáním dat naměřených na něm. AFM je způsobem měření, který dokáže stanovit topografii s vysokou přesností - v jednotkách délek atomů. Popis detekčního ...