• Využití obrazové analýzy a jejích algoritmů při defektoskopii nanovlákenných vrstev 

      Autor: Šípek Vojtěch; Vedoucí práce: Bukovský Ivo; Oponent práce: Steinbauer Pavel
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2019-01-31)
      Cílem této práce je nalezení vhodného postupu pro detekci vad v konkrétních vzorcích nanovrstvých materiálů. V teoretické části jsou popsány metody obrazové analýzy, včetně 2D Fourierovy transformace a metody hlavních ...