Now showing items 1-1 of 1

    • Klasifikace desek podle vzorů poškození chipů při jejich výrobě 

      Author: Jan Šefčík; Supervisor: Kovalenko Alexander; Opponent: Šimánek Petr
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2022-06-04)
      Automatizovaná klasifikace vzorů defektů na deskách je náročný úkol pro výrobce polovodičů. V rámci supervizovaného učení byl udělán velký pokrok. Problémem je zisk olabelovaných datasetů. Datasety jsou malé a nemají ...