Zobrazit minimální záznam

Using Machine Learning and Computer Vision for Defects Detection in Manufacturing



dc.contributor.advisorKadleček David
dc.contributor.authorJosef Losos
dc.date.accessioned2023-06-13T22:52:45Z
dc.date.available2023-06-13T22:52:45Z
dc.date.issued2023-06-13
dc.identifierKOS-1176617099805
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/109237
dc.description.abstractCílem této práce bylo analyzovat typy defektů na kovových površích, provést rešerši hlavních metod detekce objektů, které by mohly být vhodné pro detekci těchto vad a zjistit, která metoda je vhodnější. Pro vyhodnocení byly použity datasety DNAI a Severstal. První dataset je od zákazníka DNAI, snímky přímo z produkce. Druhý dataset je z Kaggle soutěže. Metody YOLO a U-net byly vybrány pro porovnání. Model YOLO je na obou datasetech úspěšnější než model U-net. Hlavním rozdílem byl počet falešně pozitivních predikcí. Na datasetu Severstal dosáhl model YOLO s benevolentní metrikou recall 90 % a přesností 69,3 %. Na datasetu DNAI byly výsledky 72,2 % recall a 70,5 % přesnost.cze
dc.description.abstractThis work aimed to analyze the types of defects on metallic surfaces, to search for the leading object detection methods that could be suitable for detecting these defects, and to find out which method is more suitable. DNAI and Severstal datasets were used for the evaluation task. The first dataset is from a DNAI client, with images taken from a production line. The second dataset is from a Kaggle competition. YOLO and U-net were selected for comparison. The YOLO model performs better than the U-net model on both datasets. The main difference was the number of false positives. On the Severstal dataset, the YOLO model achieved a recall of 90 % and a precision of 69.3 % with the benevolent metric. On the DNAI dataset, the results were 72.2 % recall and 70.5 % precision.eng
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.publisherCzech Technical University in Prague. Computing and Information Centre.eng
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmleng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmlcze
dc.subjectpočítačové viděnícze
dc.subjectvadycze
dc.subjectdetekce objektůcze
dc.subjectYOLOcze
dc.subjectU-netcze
dc.subjectComputer Visioneng
dc.subjectdefectseng
dc.subjectobject detectioneng
dc.subjectYOLOeng
dc.subjectU-neteng
dc.titleVyužití strojového učení a počítačového vidění pro detekci vad v průmyslové výroběcze
dc.titleUsing Machine Learning and Computer Vision for Defects Detection in Manufacturingeng
dc.typebakalářská prácecze
dc.typebachelor thesiseng
dc.contributor.refereeNeumann Lukáš
theses.degree.disciplineZáklady umělé inteligence a počítačových vědcze
theses.degree.grantorkatedra kybernetikycze
theses.degree.programmeOtevřená informatikacze


Soubory tohoto záznamu





Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam