Zobrazit minimální záznam

Characterization of Semiconductor Materials



dc.contributor.advisorLaposa Alexandr
dc.contributor.authorPetr Voborník
dc.date.accessioned2022-06-09T22:57:21Z
dc.date.available2022-06-09T22:57:21Z
dc.date.issued2022-06-09
dc.identifierKOS-1174747747505
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/101711
dc.description.abstractDiplomová práce se zabývá měřením odporu metodou Van der Pauw a měřením Hallova jevu. V práci je podrobně popsán princip jednotlivých metod a výhody a nevýhody těchto metod. V diplomové práci je řešena automatizace měření odporu metodou Van der Pauw a automatizace měření Hallova jevu pomocí parametrického analyzátoru Agilent 4156C. V teoretické části je popsáno měření elektrického odporu a elektrické rezistivity. V této části je též teoreticky popsána metoda Van der Pauw a měření Hallova jevu. Experimentální část popisuje jaká soustava je použita pro měření jednotlivých jevů a algoritmus použitý pro automatizaci měření. V této části jsou již konkrétní výsledky experimentů z vytvořené sestavy. V experimentální části je dále detailně popsán program pro automatizaci zmíněných měření včetně ukázky funkčnosti programu.cze
dc.description.abstractThis master’s thesis is devoted to measuring resistance by Van der Pauw method a measuring Hall effect. Thesis describes in detail the principle of each method and the advantages and disadvantages of these methods. Master’s thesis also deals with the automation of resistance measurement by the Van der Pauw method and the measurement of the Hall effect. The theoretical part describes the measurement of electrical resistance. This part also theoretically describes Van der Pauw method and measuring Hall effect. The experimental part describes which system is used to measure individual phenomena and algorithm used for automation of measurement. In this part there are already concrete results of experiments from created program. The experimental part also in detail describes automation of said measurements. In this part there is also shown functionality of created program.eng
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.publisherCzech Technical University in Prague. Computing and Information Centre.eng
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmleng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmlcze
dc.subjectautomatizace měřenícze
dc.subjectVan der Pauwcze
dc.subjectHallcze
dc.subjectparametrický analyzátorcze
dc.subjectautomation of measurementeng
dc.subjectVan der Pauweng
dc.subjectHalleng
dc.subjectparametric analyzereng
dc.titleCharakterizace polovodičových materiálůcze
dc.titleCharacterization of Semiconductor Materialseng
dc.typediplomová prácecze
dc.typemaster thesiseng
dc.contributor.refereeHubík Pavel
theses.degree.disciplineElektronikacze
theses.degree.grantorkatedra mikroelektronikycze
theses.degree.programmeElektronika a komunikacecze


Soubory tohoto záznamu





Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam