Now showing items 1-1 of 1

    • Využití obrazové analýzy a jejích algoritmů při defektoskopii nanovlákenných vrstev 

      Author: Šípek Vojtěch; Supervisor: Bukovský Ivo; Opponent: Steinbauer Pavel
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2019-01-31)
      Cílem této práce je nalezení vhodného postupu pro detekci vad v konkrétních vzorcích nanovrstvých materiálů. V teoretické části jsou popsány metody obrazové analýzy, včetně 2D Fourierovy transformace a metody hlavních ...