Prohlížení dle předmětu "test compression"

Zobrazují se záznamy 1-2 z 2

    • On don't cares in test compression 

      Autor: Balcárek J.; Fišer P.; Schmidt J.
      (Elsevier Science, 2014)
      Both test compression tools and ATPGs directly producing compressed test greatly benefit from don’t care values present in the test. Actually, presence of these don’t cares is essential for success of the compression. ...

    • Test Compression Based on the Illinois-Scan Architecture 

      Autor: Daniel Králík; Vedoucí práce: Fišer Petr; Oponent práce: Borecký Jaroslav
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2020-09-03)
      Bakalářská práce se zabývá návrhem a implementaci algoritmu pro kopresi testu založeném na Illinois-Scan dekompresni architektuře použivané pro tes-továni digitálnich obvodů. Jedná se o metodu testováni sekvenčich obvodů, ...