Browsing by Subject "combinational circuits"
Now showing items 1-1 of 1
-
Test Compression Based on the Illinois-Scan Architecture
; Supervisor: Fišer Petr; Opponent: Borecký Jaroslav
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2020-09-03)Bakalářská práce se zabývá návrhem a implementaci algoritmu pro kopresi testu založeném na Illinois-Scan dekompresni architektuře použivané pro tes-továni digitálnich obvodů. Jedná se o metodu testováni sekvenčich obvodů, ...