Zobrazit minimální záznam

Photoluminescence spectroscopy of silicon optical centres in diamond films



dc.contributor.advisorAubrechtová Dragounová Kateřina
dc.contributor.authorLucie Barborková
dc.date.accessioned2021-06-10T22:54:21Z
dc.date.available2021-06-10T22:54:21Z
dc.date.issued2021-06-10
dc.identifierKOS-1087584477705
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/94999
dc.description.abstractDiplomová práce se zabývá vlivem depozičních parametrů na fotoluminiscenci SiV center vytvářených při výrobě tenkých diamantových vrstev, které jsou připravovány metodou MW PECVD. Cílem bylo minimalizovat množství opticky aktivních SiV center, která vznikají neřízeným dopováním diamantové vrstvy atomy křemíku z reakční komory. Vyhodnocení studovaného vlivu vychází zejména z analýz spekter fotoluminiscence, spekter Ramanova rozptylu a ze snímků SEM, a to pro 32 vzorků připravovaných za různých depozičních parametrech. Ze zkoumaných parametrů depozic lze konstatovat, že růstu kvalitní diamantové vrstvy s velmi nízkým podílem opticky aktivních SiV center lze docílit použitím optimálního tlaku 90 mbar a výkonu mikrovlnného generátoru 1,5 kW v MW PECVD systému s elipsoidním rezonátorem. Takto připravované vrstvy lze následně využít pro cílené dopování diamantových vrstev SiV centry s potenciálním využitím v oblasti realizace fluorescenčních biosenzorů.cze
dc.description.abstractThe diploma thesis investigates the influence of deposition parameters on the photoluminescence of SiV centers formed during the diamond thin film growth by MW PECVD method. The aim was to minimize the number of such optically active SiV centers that are unintendedly formed by doping with silicon atoms coming from the reaction chamber. The evaluation of the studied effects is mainly based on the analysis of photoluminescence and Raman spectra, and SEM images of altogether 32 samples grown under different deposition parameters. From the investigated set of parameters, it can be concluded that the growth of a diamond layer with a very low content of optically active SiV centers can be optimally achieved at a pressure of 90 mbar and a microwave power of 1.5 kW in the MW PECVD system with ellipsoidal cavity resonator. Diamond layers grown in this way can be then used for controllable doping with SiV centers for developing fluorescence-based biosensors.eng
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.publisherCzech Technical University in Prague. Computing and Information Centre.eng
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmleng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmlcze
dc.subjectOptické centrumcze
dc.subjectKřemík–uhlíková vakancecze
dc.subjectLuminiscenční spektroskopiecze
dc.subjectRamanova spektroskopiecze
dc.subjectDiamantcze
dc.subjectTenká vrstvacze
dc.subjectOptical centereng
dc.subjectSilicon–vacancyeng
dc.subjectLuminescence spectroscopyeng
dc.subjectRaman spectroscopyeng
dc.subjectDiamondeng
dc.subjectThin filmeng
dc.titleFotoluminiscenční spektroskopie křemíkových optických center v diamantových vrstváchcze
dc.titlePhotoluminescence spectroscopy of silicon optical centres in diamond filmseng
dc.typediplomová prácecze
dc.typemaster thesiseng
dc.contributor.refereeVarga Marián
theses.degree.disciplineInženýrství pevných látekcze
theses.degree.grantorkatedra inženýrství pevných látekcze
theses.degree.programmeAplikace přírodních vědcze


Soubory tohoto záznamu




Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam