Recent Submissions

  • Analýza vertikální indexové chyby prostorového optického skeneru 

    Author: Brzobohatý Jindřich; Supervisor: Pokorný Petr; Opponent: Vyskočil Zdeněk
    (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2018-06-22)
    V práci je navržen efektivní kalibrační proces pro potlačení nežádoucího vlivu systematické vertikální indexové chyby pozemního prostorového optického skeneru, který je velmi snadno aplikovatelný v praxi. Nejprve jsou ...
  • Desky proměnné tloušťky a jejich aplikace v optice 

    Author: Šmejkal Filip; Supervisor: Mikš Antonín; Opponent: Novák Jiří
    (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2017-01-06)
    V práci je představena teorie osově souměrných desek proměnné tloušťky s uvážením i zanedbáním vlivu smykové deformace pro malé průhyby a teorie osově souměrných membrán konstantní i proměnné tloušťky pro velmi velké ...
  • Vybrané metody měření deformací stavebních a strojních konstrukcí a prvků 

    Author: Šmejkal Filip; Supervisor: Mikš Antonín; Opponent: Novák Jiří
    (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2015-05-13)
    V práci jsou představeny principy vybraných kontaktních a bezkontaktních metod měření deformací stavebních a strojních konstrukcí a prvků. Jsou zde uvedeny, případně odvozeny základní matematické vztahy popisující funkci ...
  • Šíření a difrakce elektromagnetických vln 

    Author: Kulmon Pavel; Supervisor: Mikš Antonín; Opponent: Novák Pavel
    (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2016-05-22)
    V práci jsou popsány základní rovnice elektromagnetického pole a zkoumány jeho vlastnosti na základě jeho charakteristických vektorů. Dále jsou v práci uvedeny a odvozeny základní vztahy pro popis difrakce na rovinném ...
  • Vyhodnocování interferogramů metodou Fourierovy transformace 

    Author: Pokorný Petr; Supervisor: Mikš Antonín; Opponent: Novák Pavel
    (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2014-01-23)
  • Deflektometrická metoda měření topografie lesklých ploch 

    Author: Opat Jan; Supervisor: Mikš Antonín; Opponent: Novák Jiří
    (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2013-06-26)
  • Teoretické základy jednozrcadlových a dvouzrcadlových optických skenerů 

    Author: Pokorný Petr; Supervisor: Mikš Antonín; Opponent: Novák Jiří
    (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2012-07-24)
  • Využití nanotechnologií ve stavebnictví 

    Author: Klicmanová Iveta; Supervisor: Sveshnikov Alexey
    (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2012-07-24)