Zobrazit minimální záznam

Study of silicon nanostructures by microscopic methods



dc.contributor.advisorFejfar Antonín
dc.contributor.authorHývl Matěj
dc.date.accessioned2014-06-27T11:52:53Z
dc.date.available2014-06-27T11:52:53Z
dc.date.issued2014-06-27
dc.date.submitted2014-06-27 13:03:27.0
dc.identifierKOS-520301817005
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/24116
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one’s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfeng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfcze
dc.titleStudium nanostruktur křemíku mikroskopickými metodami
dc.titleStudy of silicon nanostructures by microscopic methodseng
dc.typediplomová prácecze
dc.date.updated2014-06-27T11:52:53Z
dc.date.accepted2014-06-03 00:00:00.0
dc.contributor.refereeValenta Jan
dc.description.departmentkatedra fyzikální elektronikycze
theses.degree.nameIng.cze
theses.degree.disciplineOptika a nanostrukturycze
theses.degree.grantorFakulta jaderná a fyzikálně inženýrskácze
theses.degree.programmeAplikace přírodních vědcze
evskp.contactČVUTcze


Soubory tohoto záznamu


Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam