Show simple item record

Design and Optimization of Instruments for X-ray Metrology



dc.contributor.advisorZicha Josef
dc.contributor.authorMaršík Jiří
dc.date.accessioned2012-10-19T00:01:57Z
dc.date.available2012-10-19T00:01:57Z
dc.date.issued2012-10-19
dc.date.submitted2012-10-19 02:00:02.0
dc.identifierKOS-23248051802
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/13624
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one’s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfeng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfcze
dc.titleKonstrukce a optimalizace zařízení pro rentgenovou metrologii
dc.titleDesign and Optimization of Instruments for X-ray Metrologyeng
dc.typedisertační prácecze
dc.date.updated2012-10-19T00:01:57Z
dc.date.accepted2011-06-06 00:00:00.0
dc.description.departmentKatedra přesné mech. a optikycze
theses.degree.namePh.D.cze
theses.degree.disciplineKonstrukční a procesní inženýrstvícze
theses.degree.grantorFakulta strojnícze
theses.degree.programmeStrojní inženýrstvícze
evskp.contactČVUTcze


Files in this item


This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record