Mikroskopická měření vlastností nanostrukturních křemíkových tenkých vrstev
Microscopic measurements of the properties of nanostructured silicon thin films
Type of document
bakalářská práceAuthor
Hývl Matěj
Supervisor
Fejfar Antonín
Opponent
Šiňor Milan
Field of study
Fyzikální inženýrstvíStudy program
Aplikace přírodních vědInstitutions assigning rank
Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrskáDefended
2012-09-12 00:00:00.0Rights
A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one’s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdf
Metadata
Show full item recordView/ Open
Collections
- Bakalářské práce - 14112 [106]
The following license files are associated with this item: