Zobrazit minimální záznam

Microscopic measurements of the properties of nanostructured silicon thin films



dc.contributor.advisorFejfar Antonín
dc.contributor.authorHývl Matěj
dc.date.accessioned2012-09-15T00:04:12Z
dc.date.available2012-09-15T00:04:12Z
dc.date.issued2012-09-15
dc.date.submitted2012-09-15 02:00:03.0
dc.identifierKOS-346757555205
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/13065
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one’s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfeng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfcze
dc.titleMikroskopická měření vlastností nanostrukturních křemíkových tenkých vrstev
dc.titleMicroscopic measurements of the properties of nanostructured silicon thin filmseng
dc.typebakalářská prácecze
dc.date.updated2012-09-15T00:04:12Z
dc.date.accepted2012-09-12 00:00:00.0
dc.contributor.refereeŠiňor Milan
dc.description.departmentkatedra fyzikální elektronikycze
theses.degree.nameBc.cze
theses.degree.disciplineFyzikální inženýrstvícze
theses.degree.grantorFakulta jaderná a fyzikálně inženýrskácze
theses.degree.programmeAplikace přírodních vědcze
evskp.contactČVUTcze


Soubory tohoto záznamu


Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam