Zobrazit minimální záznam

Preparation and analysis of multilayer metal - dielectric systems by PVD methods



dc.contributor.advisorSkočdopole Jakub
dc.contributor.authorJáchym Lis
dc.date.accessioned2025-06-13T23:47:53Z
dc.date.available2025-06-13T23:47:53Z
dc.date.issued2025-06-13
dc.identifierKOS-1246768588905
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/123384
dc.description.abstractPro vyvíjená využití vodíkových technologií v energetice je nutné zajistit jejich bezpečnost pomocí vývoje kvalitních vodíkových senzorů. V práci jsou zkoumány dva principy optických senzorů využívajících jevů na rozhraní kovu a dielektrika ve vícevrstevných strukturách tenkých vrstev, a to kombinace tenké vrstvy stříbra s velmi tenkou vrstvou paladia pro vybuzení povrchového plasmon-polaritonu a kombinace stříbra, dielektrické mezivrstvy a velmi tenké vrstvy paladia pro vybuzení vlnovodného módu. Vzorky byly připraveny metodami Magnetron Sputtering a Ionized Jet Deposition. Analýza vzorků probíhala za využití elipsometrie, metody Attenuated Total Reflection, mikroskopie atomárních sil a počítačových simulací. Funkčnost senzorických struktur byla analyzována pomocí in operando elipsometrické analýzy tenké vrstvy paladia a simulace chování senzoru na základě změny parametrů paladiové vrstvy. Struktura fungující na bázi povrchových plasmon-polaritonů se ukázala být vhodným kandidátem pro další vývoj vodíkového senzoru.cze
dc.description.abstractTo develop the use of hydrogen technologies in the energy sector, it is necessary to ensure their safety by developing high-quality hydrogen sensors. In this work, two principles of optical sensors exploiting metal-dielectric interface phenomena in multilayer thin film structures are investigated, specifically the combination of a thin silver layer with a very thin palladium layer for excitation of the surface plasmon-polariton and the combination of silver, a dielectric intermediate layer and a very thin palladium layer for excitation of the waveguide mode. The samples were prepared by Magnetron Sputtering and Ionized Jet Deposition methods. The analysis of the samples was carried out using ellipsometry, Attenuated Total Reflection method, atomic force microscopy and computer simulations. The functionality of the sensor structures was analyzed by in operando ellipsometric analysis of the palladium thin film and simulation of the sensor behavior based on the variation of the palladium layer parameters. The structure functioning on the basis of surface plasmon-polaritons was found to be a suitable candidate for further development of the hydrogen sensor.eng
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.publisherCzech Technical University in Prague. Computing and Information Centre.eng
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmleng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmlcze
dc.subjectpovrchový plasmon-polaritoncze
dc.subjectvlnovodcze
dc.subjectPVDcze
dc.subjecttenké vrstvycze
dc.subjectvodíkcze
dc.subjectpaladiumcze
dc.subjectsurface plasmon-polaritoneng
dc.subjectwaveguideeng
dc.subjectPVDeng
dc.subjectthin filmseng
dc.subjecthydrogeneng
dc.subjectpalladiumeng
dc.titlePříprava a analýza multivrstevnatých systémů kov, dieletrikum metodami PVDcze
dc.titlePreparation and analysis of multilayer metal - dielectric systems by PVD methodseng
dc.typediplomová prácecze
dc.typemaster thesiseng
dc.date.accepted2025-06-12
dc.contributor.refereeRichter Ivan
theses.degree.grantorkatedra inženýrství pevných látekcze
theses.degree.programmeInženýrství pevných látekcze


Soubory tohoto záznamu




Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam