Now showing items 1-4 of 4

    • Kontaktní měření geometrie povrchů 

      Author: Patrik Kopecký; Supervisor: Denk Petr; Opponent: Němcová Šárka
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2022-01-29)
      Tato bakalářská práce se zabývá kontaktním 3D měření geometrie povrchů. Za pomoci kontaktních souřadnicových strojů zvaných CMM. Zabývá se typy těchto strojů, možnými dotyky využitými k měření, kompenzací chyb doteku a ...
    • Metodika pre realizáciu legálne metrologického SW v prostredí Cloud Computing 

      Author: Vladimir Pozdeev; Supervisor: Koval Martin; Opponent: Valenta Michal
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2021-06-17)
      Tato bakalářská práce se zabývá problematikou metrologických SW v kategoriích, jako: dlouhodobé ukládání dat, komunikace, download SW. Problém bude řešen s využitím technologií Cloud Computing a podle metodiky Welmec Guide ...
    • Návrh a realizace upínacího systému pro CT 

      Author: Lukáš Malý; Supervisor: Šimota Jan; Opponent: Koptiš Michal
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2021-09-03)
      Cílem této bakalářské práce je seznámení čtenáře s problematikou upínání dílů při měření pomocí průmyslových tomografů, návrhem vlastního univerzálního upínacího systému, volbou vhodného materiálu pro výrobu upínacího ...
    • Vliv teploty prostředí v laboratoři na nejistoty měření při kalibraci. 

      Author: Lukáš Turek; Supervisor: Urban Jan; Opponent: Koptiš Michal
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2020-08-28)
      Bakalářská práce se zabývá kalibracemi a kalibračními laboratořemi. V práci je stručně popsána historie metrologie, vysvětluje pojmy jako je řízení kvality, metrologická návaznost, nejistoty měření a kalibrace. Tyto informace ...