Browsing by Subject ""deposition by focused ion and electron beam""
Now showing items 1-1 of 1
-
Elektrická charakterizace jednotlivých nanotyček ZnO
; Supervisor: Grym Jan; Opponent: Fitl Přemysl
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2023-02-04)Tato práce se zabývá elektrickou charakterizací jednotlivých nanotyček ZnO. Teoretická část je zaměřena na elektrickou charakterizaci jednodimenzionálních nanostruktur, na metody jejich přenosu a kontaktování. Hlavní část ...