ČVUT DSpace
  • Prohledat DSpace
  • English
  • Přihlásit se
  • English
  • English
Zobrazit záznam 
  •   ČVUT DSpace
  • České vysoké učení technické v Praze
  • Publikační činnost ČVUT
  • Zobrazit záznam
  • České vysoké učení technické v Praze
  • Publikační činnost ČVUT
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Thin-film limit formalism applied to surface defect absorption

Typ dokumentu
článek v časopise
journal article
Peer-reviewed
publishedVersion
Autor
Holovský J.
Ballif C.



Práva
openAccess
Metadata
Zobrazit celý záznam
Abstrakt
The thin-film limit is derived by a nonconventional approach and equations for transmittance, reflectance and absorptance are presented in highly versatile and accurate form. In the thin-film limit the optical properties do not depend on the absorption coefficient, thickness and refractive index individually, but only on their product. We show that this formalism is applicable to the problem of ultrathin defective layer e.g. on a top of a layer of amorphous silicon. We develop a new method of direct evaluation of the surface defective layer and the bulk defects. Applying this method to amorphous silicon on glass, we show that the surface defective layer differs from bulk amorphous silicon in terms of light soaking.
URI
http://hdl.handle.net/10467/81579
Zobrazit/otevřít
PUBLISHED ## OPEN (793.2Kb)
Kolekce
  • Publikační činnost ČVUT [1507]

České vysoké učení technické v Praze copyright © 2016 

DSpace software copyright © 2002-2016  Duraspace

Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
Theme by 
@mire NV
 

 

Užitečné odkazy

ČVUT v PrazeÚstřední knihovna ČVUTO digitální knihovně ČVUTInformační zdrojePodpora studiaPodpora publikování

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDle data publikováníAutořiNázvyKlíčová slovaTato kolekceDle data publikováníAutořiNázvyKlíčová slova

Můj účet

Přihlásit se

České vysoké učení technické v Praze copyright © 2016 

DSpace software copyright © 2002-2016  Duraspace

Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
Theme by 
@mire NV