Zobrazit minimální záznam

Thin organic and inorganic films prepared by laser for waveguiding sensors



dc.contributor.advisorJelínek Miroslav
dc.contributor.authorPavlištík Jan
dc.date.accessioned2017-07-09T12:48:43Z
dc.date.available2017-07-09T12:48:43Z
dc.date.issued2007-06-08
dc.identifierKOS-43072036805
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/70996
dc.description.abstractPráce popisuje metodiku přípravy tenkých vrstev laserovou ablací. Konkrétněmetodiku depozičních metod PLD (pulsní laserová depozice) a MAPLE (pulsní laserová depozice asistovaná matricí). Zabývá se aplikacemi tenkých vrstev deponovaných uvedenými metodami pro planární optické vlnovody. Uvádí rozdíly mezi aktivními a pasivními optickými vlnovody. Dále podává informaci o vlastnostech materiálů BaTiO3 a SrBaTiO3. V experimentální části práce byla prováděna analýza vlastností vrstev těchto materiálůdeponovaných za různých podmínek. Na základě této analýzy byla posouzena vhodnost zkoumaných vrstev pro vlnovodové aplikace. Vrstvy byly hodnoceny měřením metodou M-line (módová spektroskopie, určení indexu lomu a tloušťky vrstvy), transmisním měřením (index lomu, propustnost) na UV-VIS spektrofotometru, dále metodou XRD (rentgenovská difraktoskopie) a měřením tloušťky vrstvy na mechanickém profilometru ?-step (vydává částečnou informaci o homogenitě povrchu). Veškeré výsledky měření a jejich hodnocení jsou publikovány v této práci.cze
dc.description.abstractThis paper describes methodics of thin film production by laser ablation. Namely PLD (pulsed laser deposition) and MAPLE (matrix assisted pulsed laser evaporation). It is engaged in thin films (deposited by laser ablation) applications for planar optical waveguides. It shows differents between active and passive optical waveguides. It also gives us notice about BaTiO3 and SrBaTiO3 material properties. The aim of experiment was to analyse thin films of these materials. Usability for waveguide applications of investigated films was judged on the basis of this analysis. Films was characterized by M-line measurement (mode spectroscopy, determination of refractive index and film thickness), measurement of transmission by UV-VIS spectrophotometer (refractive index), XRD Metod (x-ray diffraction) and by measuring of film thickness by mechanical profilemeter ?-step (partial information about surface homogeneity). All resultings and their assessments are published in this papereng
dc.language.isoCZE
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.publisherCzech Technical University in Prague. Computing and Information Centre.eng
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmleng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmlcze
dc.subjectvlnovodové biosenzory,tenké vrstvy,organický materál,anorganický materiálcze
dc.subjectthin films,organic,anorganicseng
dc.titleTenké vrstvy organických a anorganických materiálů pro vlnovodové biosenzory připravené laseremcze
dc.titleThin organic and inorganic films prepared by laser for waveguiding sensorseng
dc.typebakalářská prácecze
dc.typebachelor thesiseng
dc.date.accepted2007-06-26
dc.contributor.refereeFitl Přemysl
theses.degree.disciplineBiomedicínská a klinická technikacze
theses.degree.grantorkatedra biomedicínské technikycze
theses.degree.programmeBiomedicínská a klinická technikacze


Soubory tohoto záznamu

SouboryVelikostFormátZobrazit

K tomuto záznamu nejsou připojeny žádné soubory.

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam