Prohlížení Bakalářské práce - 11102 dle názvu
Zobrazují se záznamy 1-6 z 6
-
Analýza vertikální indexové chyby prostorového optického skeneru
; Vedoucí práce: Pokorný Petr; Oponent práce: Vyskočil Zdeněk
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2018-06-22)V práci je navržen efektivní kalibrační proces pro potlačení nežádoucího vlivu systematické vertikální indexové chyby pozemního prostorového optického skeneru, který je velmi snadno aplikovatelný v praxi. Nejprve jsou ... -
Deflektometrická metoda měření topografie lesklých ploch
; Vedoucí práce: Mikš Antonín; Oponent práce: Novák Jiří
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2013-06-26) -
Použití zjednodušených FFT algoritmů pro měření v terénu pomocí DIC
; Vedoucí práce: Nežerka Václav; Oponent práce: Tesárek Pavel
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2022-06-22)Bakalářská práce se zabývá měřením posunů a deformací za pomocí bezkontaktní metody korelace digitálního obrazu (DIC). První část práce je teoretická a jsou v ní porovnány kontaktní a bezkontaktní metody měření posunů a ... -
Teoretické základy jednozrcadlových a dvouzrcadlových optických skenerů
; Vedoucí práce: Mikš Antonín; Oponent práce: Novák Jiří
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2012-07-24) -
Vybrané metody měření deformací stavebních a strojních konstrukcí a prvků
; Vedoucí práce: Mikš Antonín; Oponent práce: Novák Jiří
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2015-05-13)V práci jsou představeny principy vybraných kontaktních a bezkontaktních metod měření deformací stavebních a strojních konstrukcí a prvků. Jsou zde uvedeny, případně odvozeny základní matematické vztahy popisující funkci ... -
Využití nanotechnologií ve stavebnictví
; Vedoucí práce: Sveshnikov Alexey
(České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2012-07-24)