Aplikace mikroskopických metod pro charakterizaci křemíkových nanostruktur
Application of Microscopy Methods for Characterization of Silicon Nanostructures
| dc.contributor.advisor | Fejfar Antonín | |
| dc.contributor.author | Matěj Hývl | |
| dc.date.accessioned | 2023-02-28T13:19:41Z | |
| dc.date.available | 2023-02-28T13:19:41Z | |
| dc.date.issued | 2022-09-09 | |
| dc.identifier | KOS-609762479305 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10467/106795 | |
| dc.description.abstract | Tato práce pojedná́vá o proud-detekujícímikroskopii atomá́rních sil, rozsáhlé, ale relativně mladé skupině technik SPM, které využívají vodivý hrot k měření lokálních elektrický́ch vlasností. | cze |
| dc.description.abstract | This thesis concentrates on the current-detecting atomic force microscopy for characterisation of nano-structured solar cells. It also offers a detailed description of the application of two new techniques, Scalpel C-AFM and C-AFM Tomography, on the silicon solar cell sample. | eng |
| dc.publisher | České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum. | cze |
| dc.publisher | Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre. | eng |
| dc.rights | A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html | eng |
| dc.rights | Vysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html | cze |
| dc.subject | Mikroskopie atomárních sil | cze |
| dc.subject | fotovoltaika | cze |
| dc.subject | C-AFM tomografie | cze |
| dc.subject | Atomic Force Microscopy | eng |
| dc.subject | photovoltaics | eng |
| dc.subject | C-AFM Tomography | eng |
| dc.title | Aplikace mikroskopických metod pro charakterizaci křemíkových nanostruktur | cze |
| dc.title | Application of Microscopy Methods for Characterization of Silicon Nanostructures | eng |
| dc.type | disertační práce | cze |
| dc.type | doctoral thesis | eng |
| dc.date.accepted | 2022-09-14 | |
| dc.contributor.referee | Kolíbal Miroslav | |
| theses.degree.discipline | Fyzikální inženýrství | cze |
| theses.degree.grantor | katedra fyzikální elektroniky | cze |
| theses.degree.programme | Aplikace přírodních věd | cze |
Soubory tohoto záznamu
Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích
-
Disertační práce - 14000 [251]