Aplikace mikroskopických metod pro charakterizaci křemíkových nanostruktur
Application of Microscopy Methods for Characterization of Silicon Nanostructures
Type of document
disertační prácedoctoral thesis
Author
Matěj Hývl
Supervisor
Fejfar Antonín
Opponent
Kolíbal Miroslav
Field of study
Fyzikální inženýrstvíStudy program
Aplikace přírodních vědInstitutions assigning rank
katedra fyzikální elektronikyDefended
2022-09-14Rights
A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmlVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html
Metadata
Show full item recordAbstract
Tato práce pojedná́vá o proud-detekujícímikroskopii atomá́rních sil, rozsáhlé, ale relativně mladé skupině technik SPM, které využívají vodivý hrot k měření lokálních elektrický́ch vlasností. This thesis concentrates on the current-detecting atomic force microscopy for characterisation of nano-structured solar cells. It also offers a detailed description of the application of two new techniques, Scalpel C-AFM and C-AFM Tomography, on the silicon solar cell sample.
Collections
- Disertační práce - 14000 [251]