Browsing katedra inženýrství pevných látek by Subject "thin film"

Now showing items 1-1 of 1

    • Příprava a rentgenová difrakční analýza supravodivých tenkých vrstev nanesených metodou IJD 

      Author: Tibor Košťál; Supervisor: Čapek Jiří; Opponent: Drahokoupil Jan
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2021-02-05)
      Bakalárska práca sa zaoberá nanášaním supravodivých tenkých vrstiev pomocou IJD metódy, kde bola použitá röntgenová difrakčná analýza na určenie fázového zloženia a meranie reflektivity pre zisťenie hrúbky vrstvy. Materiál ...