Filtrovat dle předmětu
Zobrazují se záznamy 1-8 z 1
Detekce vad (1) |
Eddy current (1) |
Flaw detection (1) |
Microcontroller (1) |
Mikrokontrolér (1) |
Nedestruktivní testování (1) |
Non-destructive testing (1) |
Vířivé proudy (1) |
Detekce vad (1) |
Eddy current (1) |
Flaw detection (1) |
Microcontroller (1) |
Mikrokontrolér (1) |
Nedestruktivní testování (1) |
Non-destructive testing (1) |
Vířivé proudy (1) |