Hledat
Zobrazují se záznamy 1-1 z 1
Charakterizace polovodičových materiálů, Characterization of Semiconductor Materials
; Vedoucí práce: Laposa Alexandr; Oponent práce: Hubík Pavel (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2022-06-09)
Diplomová práce se zabývá měřením odporu metodou Van der Pauw a měřením Hallova jevu. V práci je podrobně popsán princip jednotlivých metod a výhody a nevýhody těchto metod. V diplomové práci je řešena automatizace měření ...