Browsing katedra mikroelektroniky by Author "Hanife Ece Aykol"

Now showing items 1-1 of 1

    • Návrh systému pro testování spolehlivosti pamětí typu FLASH 

      Author: Hanife Ece Aykol; Supervisor: Bouřa Adam; Opponent: Scheirich Ján
      (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2020-08-28)
      Flash paměť je typem elektricky vymazatelné a programovatelné volatilní paměti (EEPROM). Stala se jednou z nejvýznamnějších částí trhu s polovodičovými pamětmi. Výhodou flash pamětí je, že jsou elektricky přepisovatelné ...