Search
Now showing items 1-3 of 3
Výzkum mikrostrukturních procesů v tenkých vrstvách slitin s tvarovou pamětí pomocí bezkontaktní rezonanční ultrazvukové spektroskopie., Analysis of microstructural processes in SMA thin films by means of noncontact resonant ultrasound spectroscopy.
; Supervisor: Seiner Hanuš; Opponent: Sedlák Petr (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2014-02-14)
Určení anizotropie ohybové tuhosti monokrystalických substrátů pro epitaxní růst, Determination of anisotropic bending stiffness of single crystal substrate for epitaxial growth
; Supervisor: Seiner Hanuš; Opponent: Landa Michal (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2014-02-14)
Použití rezonanční ultrazvukové spektroskopie pro analýzu pokročilých keramických materiálů, Application of resonant ultrasound spectroscopy for analysis of advanced ceramic materials
; Supervisor: Seiner Hanuš; Opponent: Mušálek Radek (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum., 2012-09-04)