ČVUT DSpace
  • Prohledat DSpace
  • English
  • Přihlásit se
  • English
  • English
Zobrazit záznam 
  •   ČVUT DSpace
  • České vysoké učení technické v Praze
  • Fakulta elektrotechnická
  • katedra měření
  • Bakalářské práce - 13138
  • Zobrazit záznam
  • České vysoké učení technické v Praze
  • Fakulta elektrotechnická
  • katedra měření
  • Bakalářské práce - 13138
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Tester statických charakteristik s mikrokontrolérem

Microcontroller Based DC Characteristics Tester

Typ dokumentu
bakalářská práce
bachelor thesis
Autor
Josef Burda
Vedoucí práce
Fischer Jan
Oponent práce
Dresler Tomáš
Studijní program
Kybernetika a robotika
Instituce přidělující hodnost
katedra měření



Práva
A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html
Vysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html
Metadata
Zobrazit celý záznam
Abstrakt
Tato práce se zabývá návrhem a realizací systému pro měření statických charakteristik polovodičových součástek. K měření je využit vývojový kit NUCLEO osazený mikrokontrolérem z řady STM32, který má za úkol provádět měření a odesílat změřené hodnoty nadřazenému PC. Aplikace na nadřazeném PC řídí měření a prezentuje jeho výsledky v grafické podobě. V rámci práce byly vytvořeny programy pro mikrokontrolér a PC. Součástí práce je také sbírka úloh, při jejichž řešení bude systém využit. Hlavním cílem je podpora výuky elektroniky.
 
The main goal of this thesis is to design and realise a system for measuring DC characteristics of semiconductor components. The measurements are done by an STM32 series microcontroller which measures the desired parameters and sends the results to a parent PC. The parent PC application controls the measurement and presents the results in a graphical form. A firmware for the microcontroller and a PC application were created as a part of this thesis. This thesis also contains a set of laboratory assignments for which the system will be used. The main goal of the project is the support of electronics education.
 
URI
http://hdl.handle.net/10467/82735
Zobrazit/otevřít
PLNY_TEXT (8.816Mb)
PRILOHA (370.7Kb)
PRILOHA (2.126Mb)
PRILOHA (29.09Mb)
PRILOHA (25.67Kb)
PRILOHA (8.237Mb)
POSUDEK (58.54Kb)
POSUDEK (576.8Kb)
Kolekce
  • Bakalářské práce - 13138 [293]

České vysoké učení technické v Praze copyright © 2016 

DSpace software copyright © 2002-2016  Duraspace

Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
Theme by 
@mire NV
 

 

Užitečné odkazy

ČVUT v PrazeÚstřední knihovna ČVUTO digitální knihovně ČVUTInformační zdrojePodpora studiaPodpora publikování

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDle data publikováníAutořiNázvyKlíčová slovaTato kolekceDle data publikováníAutořiNázvyKlíčová slova

Můj účet

Přihlásit se

České vysoké učení technické v Praze copyright © 2016 

DSpace software copyright © 2002-2016  Duraspace

Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
Theme by 
@mire NV