ČVUT DSpace
  • Search DSpace
  • Čeština
  • Login
  • Čeština
  • Čeština
View Item 
  •   ČVUT DSpace
  • Czech Technical University in Prague
  • Faculty of Electrical Engineering
  • Department of Measurement
  • Master Theses - 13138
  • View Item
  • Czech Technical University in Prague
  • Faculty of Electrical Engineering
  • Department of Measurement
  • Master Theses - 13138
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Přesné měření polohy s využitím zpracování difrakčních obrazů

Precise Position Measurement Using Diffraction Image Processing

Type of document
diplomová práce
master thesis
Author
Hubík Martin
Supervisor
Fischer Jan
Opponent
Havle Otto
Field of study
Senzory a přístrojová technika
Study program
Kybernetika a robotika
Institutions assigning rank
katedra měření
Defended
2017-01-31



Rights
A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html
Vysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html
Metadata
Show full item record
Abstract
Cílem této práce je prozkoumat a navrhnout metody optického měření polohy v jedné i ve dvou osách současně v rozsahu jednotek milimetrů s rozlišením v řádu stovek nanometrů. Metoda měření spočívá v určení polohy stínového obrazce za stínítkem, které je osvětleno bodovým zdrojem koherentního záření. Stínový obrazec je detekován plošným CMOS senzorem. Subpixelového rozlišení je dosaženo díky interpolaci stínového obrazce. Měření polohy stínové stopy je provedeno pro dva typy stínítek (nepropustná polorovina a stínítko s kruhovou aperturou). Na základě teoretického rozboru je učiněn kvalikovaný odhad očekávané přesnosti. Ten je pak podroben experimentálnímu ověření na přesných lineárních pojezdech. Polohu stínového obrazce bylo možné určit s přesností 200 nm, což odpovídá 1/30 velikosti pixelu.
 
The goal of this thesis is to investigate and develop methods of optical position measurement in one and two axis simultaneously. The range of the measurement is in order of millimeters with resolution of hundreds of nanometers. The method is base on determination of the position of a shadow image behind the screen, which is illuminated by the coherent point light source. The shadow image is detected by CMOS area sensor. Sub-pixel resolution is achieved by interpolation of the shadow image. The theory is developed for two types of screen (semi-innite screen and screen with circular aperture). Based on theoretical analysis an estimate of expected accuracy is presented. Experimental evaluation is performed with high-precision linear translation stage. The position of a shadow image can be determined with the accuracy of 200 nm, which corresponds to 1 / 30 of the size of a pixel.
 
URI
http://hdl.handle.net/10467/67308
View/Open
PLNY_TEXT (2.292Mb)
POSUDEK (65.19Kb)
POSUDEK (297.6Kb)
Collections
  • Diplomové práce - 13138 [310]

České vysoké učení technické v Praze copyright © 2016 

DSpace software copyright © 2002-2016  Duraspace

Contact Us | Send Feedback
Theme by 
@mire NV
 

 

Useful links

CTU in PragueCentral library of CTUAbout CTU Digital LibraryResourcesStudy and library skillsResearch support

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjects

My Account

Login

České vysoké učení technické v Praze copyright © 2016 

DSpace software copyright © 2002-2016  Duraspace

Contact Us | Send Feedback
Theme by 
@mire NV