Ramanova spektroskopie organických polovodičů

Abstract

Tato bakalářská práce se zabývá využitím Ramanova mikrospektrometru ke studiu molekulární struktury organického polovodiče polyanilinu. Teoretická část práce popisuje na základě dostupné literatury shrnutí základů Ramanova rozptylu v klasickém přiblížení, poznatky o fyzikálních principech v Ramanově spektroskopie, metodách analýzy a k tomu potřebnou instrumentaci a vlastností tenkých vrstev organického polovodiče polyanilinu. Konkrétně je pak probírán moderní Renishaw inVia Qontor Ramanův mikrospektrometr a vysvětlen jeho princip činnosti. Praktická část je zaměřena na přípravě tenkých vrstev polyanilinu ve formě emeraldinové soli, které byly podrobně analyzovány provedením reálných laboratorních měření na Ramanově mikrospektrometru a třech různých excitačních laserů vlnových délek 830 nm, 633 nm, a 532 nm. Byla také provedena charakterizace pomocí AFM a SEM a změřeny základní elektrické vlastnosti vrstev.

This bachelor thesis deals with the use of Raman microspectrometer to study the molecular structure of the organic semiconductor polyaniline. The theoretical part of the thesis describes, based on the available literature, a summary of the basics of Raman scattering in the classical approximation, knowledge of the physical principles in Raman spectroscopy, methods of analysis and the instrumentation required for this, and the properties of thin films of the organic semiconductor polyaniline. Specifically, the state-of-the-art Renishaw inVia Qontor Raman microspectrometer is then discussed and its operating principles explained. The practical part focuses on the preparation of thin films of polyaniline in the form of emeraldine salt, which were analyzed in detail by performing real laboratory measurements on a Raman microspectrometer and three different excitation lasers of wavelengths 830 nm, 633 nm, and 532 nm. AFM and SEM characterization was also performed and the basic electrical properties of the layers were measured.