2D diagnostika profilu svazků nabitých částic získaných pomocí částicových urychlovačů
2D diagnostics of a charged particle beams profile obtained from particle accelerators
Typ dokumentu
diplomová prácemaster thesis
Autor
Poklop Dušan
Vedoucí práce
Jura Jakub
Oponent práce
Krist Pavel
Studijní obor
Přístrojová a řídicí technikaStudijní program
Strojní inženýrstvíInstituce přidělující hodnost
ústav přístrojové a řídící technikyObhájeno
2017-02-07Práva
A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.htmlVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://knihovny.cvut.cz/vychova/vskp.html
Metadata
Zobrazit celý záznamAbstrakt
Práce se zabývá návrhem systému pro 2D diagnostiku příčného profilu svazku na mikrotronu MT25 - kruhovém relativistickém urychlovači elektronů. Svazek urychlených elektronů je na výstupním okně elektronvodu urychlovače snímán drátkovým detektorem. Získaná data jsou navrženým systémem zpracována a pomocí filtrované zpětné projekce zobrazena jakožto 2D obrázek profilu svazku. Simulace zobrazování byla prováděna v prostření GNU Octave, za účelem vybrat vhodný filtr pro filtrovanou zpětnou projekci. Navržený systém byl realizován na platformě Arduina a osobního počítače. Systém umožnuje lepší popis svazku, který zkvalitňuje ozařovací služby mikrotronové laboratoře. Systém může být využit k diagnostice svazků nabitých částic také v dalších laboratořích. This work presents the design of a 2D diagnostic beam profile system for the MT25 microtron - a cyclic electron accelerator. The beam of the accelerated electrons at the output window of the beam line is scanned by the wire detector. These data are processed by a system which create image of the beam profile. Display simulation was designed in GNU Octave, alowing to choose the suitable filter for filtered back projection. The designed system was realized using the Arduino. The system allows better description of the beam, which improves iradiation servis of the Microtron laboratory. The system is useful to describe beams of charged particles in other laboratories.
Kolekce
- Diplomové práce - 12110 [154]