Charakterizace vlastností polovodičových detektorů
Characterization of semiconductor detector properties
Type of document
bakalářská práceAuthor
Vlková Kateřina
Supervisor
Čarná Mária
Opponent
Mikeštíková Marcela
Field of study
Fyzikální inženýrstvíStudy program
Aplikace přírodních vědInstitutions assigning rank
Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrskáDefended
2014-09-05 00:00:00.0Rights
A university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one’s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdf
Metadata
Show full item recordAbstract
Tato bakalářská práce se věnuje radiačnímu poškození v křemíkových polovodičových detektorech, které jsou složeny ze senzoru a vyčítacího čipu. V praktické části byly proměřeny charakteristiky testovacích struktur vyčítacího čipu. Práce zahrnuje základní informace o interakcích částic, křemíkových detektorech a jejich vlastnostech a o principech radiačního poškození polovodičů. This thesis focuses on the radiation damage of semiconductor detectors, which consist of a sensor and a readout chip. In the practical part of this thesis, the characteristics of the readout chip test structures have been measured. This work summarizes the fundamental information about particle intractions, silicon detectors and their properties, and about the principles of radiation damage on semicondustors.
View/ Open
Collections
- Bakalářské práce - 14102 [270]
The following license files are associated with this item: