Reverzní inženýrství v průmyslových aplikacích

Abstract

Cílem diplomové práce je uvedení problematiky spočívající v nesouladu mezi stávajícími způsoby verifikace technologií snímání bodů za idealizovaných podmínek a jejich následným použitím pro reálné aplikace, například pro reverzní inženýrství objektů s tvarovými plochami. Pro uvedení do problematiky reverzního inženýrství práce popisuje mnoho pojmů a konceptů souvisejících s tímto procesem. Uvádí přehled technologií snímání bodů a její součástí je i verifikační zkouška vybrané technologie snímání bodů dle normy ISO 10360-8. Experimentální snímání povrchu etalonu s tvarovými plochami je použito pro kvalitativní analýzu polygonových sítí, dále pro výpočty a vyhodnocení způsobilosti měřicích systémů ke snímání objektů s volnými plochami dle postupů MSA a VDA 5 a v poslední řadě pro experimentální dekompozici polygonové sítě na plochy definované matematickými funkcemi. Výstupy z těchto čtyř analýz slouží jako praktická demonstrace výše uvedené problematiky a mohou být využity pro budoucí vývoj v oblasti metrologie, reverzního inženýrství a počítačové grafiky.

The purpose of the thesis is to address the issue of the discrepancy between the existing methods of verification of 3D scanning technologies under idealized conditions and their subsequent practical application, such as the reverse engineering of objects with freeform surfaces. For an introduction into reverse engineering, the thesis describes many terms and concepts related to this process. It gives an overview of 3D scanning technologies and includes a verification test of a selected 3D scanning technology according to ISO 10360-8. Experimental scanning of a freeform etalon surface is used for qualitative analysis of polygon meshes, then for evaluation of the competence of the used 3D scanning technologies for measuring freeform surfaces according to MSA and VDA 5 procedures, and finally for an experimental decomposition of one polygon mesh into surfaces defined by mathematical functions. These four analyses provide a practical demonstration of the aforementioned issue, and their results offer potential avenues for future developments in the fields of metrology, reverse engineering, and computer graphics.