Zobrazit minimální záznam

Characterization of semiconductor detector properties



dc.contributor.advisorČarná Mária
dc.contributor.authorVlková Kateřina
dc.date.accessioned2016-06-05T10:17:35Z
dc.date.available2016-06-05T10:17:35Z
dc.date.issued2014-07-21
dc.identifierKOS-610760814805
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10467/64912
dc.description.abstractTato bakalářská práce se věnuje radiačnímu poškození v křemíkových polovodičových detektorech, které jsou složeny ze senzoru a vyčítacího čipu. V praktické části byly proměřeny charakteristiky testovacích struktur vyčítacího čipu. Práce zahrnuje základní informace o interakcích částic, křemíkových detektorech a jejich vlastnostech a o principech radiačního poškození polovodičů.cze
dc.description.abstractThis thesis focuses on the radiation damage of semiconductor detectors, which consist of a sensor and a readout chip. In the practical part of this thesis, the characteristics of the readout chip test structures have been measured. This work summarizes the fundamental information about particle intractions, silicon detectors and their properties, and about the principles of radiation damage on semicondustors.eng
dc.language.isoCZE
dc.publisherČeské vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.cze
dc.publisherCzech Technical University in Prague. Computing and Information Centre.eng
dc.rightsA university thesis is a work protected by the Copyright Act. Extracts, copies and transcripts of the thesis are allowed for personal use only and at one?s own expense. The use of thesis should be in compliance with the Copyright Act http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf and the citation ethics http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfeng
dc.rightsVysokoškolská závěrečná práce je dílo chráněné autorským zákonem. Je možné pořizovat z něj na své náklady a pro svoji osobní potřebu výpisy, opisy a rozmnoženiny. Jeho využití musí být v souladu s autorským zákonem http://www.mkcr.cz/assets/autorske-pravo/01-3982006.pdf a citační etikou http://www.cvut.cz/sites/default/files/content/d1dc93cd-5894-4521-b799-c7e715d3c59e/cs/20160901-metodicky-pokyn-c-12009-o-dodrzovani-etickych-principu-pri-priprave-vysokoskolskych.pdfcze
dc.subjectradiační odolnost, polovodičové detektory, vyčítací čipcze
dc.subjectRadiadion hardness, semiconductor detectors, readout chipeng
dc.titleCharakterizace vlastností polovodičových detektorůcze
dc.titleCharacterization of semiconductor detector propertieseng
dc.typebakalářská prácecze
dc.typebachelor thesiseng
dc.date.accepted2015-02-03
dc.contributor.refereeMikeštíková Marcela
theses.degree.disciplineFyzikální inženýrstvícze
theses.degree.grantorkatedra fyzikycze
theses.degree.programmeAplikace přírodních vědcze


Soubory tohoto záznamu

SouboryVelikostFormátZobrazit

K tomuto záznamu nejsou připojeny žádné soubory.

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam