Prohlížení České vysoké učení technické v Praze dle autora "Jagelka, M."

Zobrazují se záznamy 1-1 z 1

    • The influence of electrical stress on the distribution of electrically active defects in IGBT 

      Autor: Drobný, J.; Marek, J.; Chvála, A.; Faraga, J.; Jagelka, M.; Stuchlíková, L.
      (České vysoké učení technické v Praze. České centrum IET, 2021)
      This paper highlights electrically active defects investigation of the sixth generation 1200 V trench stop silicon-based Insulated Gate Bipolar Transistors by Deep Level Transient Fourier Spectroscopy. The ...