Search
Now showing items 1-1 of 1
Příprava a rentgenová difrakční analýza supravodivých tenkých vrstev nanesených metodou IJD, Preparation and X-ray diffraction analysis of superconducting thin films deposited by IJD method
; Supervisor: Čapek Jiří; Opponent: Drahokoupil Jan (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2021-02-05)
Bakalárska práca sa zaoberá nanášaním supravodivých tenkých vrstiev pomocou IJD metódy, kde bola použitá röntgenová difrakčná analýza na určenie fázového zloženia a meranie reflektivity pre zisťenie hrúbky vrstvy. Materiál ...