Hledat
Zobrazují se záznamy 1-3 z 3
Modeling of Evaporation of Thin Films Using DOE
(IEEE, 2006-05)
Evaporation of thin films is widely spread technology. The goal of the work has been to optimize a process of fabrication of thin resistive Ni films. Mathematical models for calculation of thickness and resistance of the ...
Equipment for measurement of nonlinearity of nominally linear components
(IEEE, 2006-05)
Nonlinearity of a nominally linear component is a significant parameter, which informs about the difference of and investigated component from an ideal one. The higher is quality of the nominally linear component; the lower ...
Vrstvové technologie v elektronice, The Layers Technologies in Electronics
; Vedoucí práce: Beshajová Pelikánová Ivana; Oponent práce: Běhan Tomáš (České vysoké učení technické v Praze. Vypočetní a informační centrum.Czech Technical University in Prague. Computing and Information Centre., 2019-08-28)
Cílem této bakalářské práce je seznámení čtenáře s technologiemi tlustých a tenkých vrstev a jejich vlastnostmi. V teoretické části jsou vysvětleny definice tlusté a tenké vrstvy, dále jsou zde uvedeny materiály na jejich ...