Test Compression Based on the Illinois-Scan Architecture

Abstract

Bakalářská práce se zabývá návrhem a implementaci algoritmu pro kopresi testu založeném na Illinois-Scan dekompresni architektuře použivané pro tes-továni digitálnich obvodů. Jedná se o metodu testováni sekvenčich obvodů, která za účelem snadné testovatelnosti převede sekvenčni obvody do spojené kombinačni logiky a klopných obvodů (DFFs), které jsou následně přerozděleny do vybraných scan-chainů. Testovaci vektory jsou pak vedené paralelně několika scan-chainy, což může způsobit neúplné pokryti všech poruch. Proto je pro nás užitečné hledat takové configurace scan-chainů, které maximalizuji pokryti po-ruch a minimalizuji délku testu. K tomuto účelu máme k dispozici nástroj na generováni testu (ATPG) - nakonec jsem použil ATPG Atalanta. Výsledky práce jsou zhodnoceny v závěru.The Bachelor thesis aims to design and implement a test compression algorithm based on the Illinois-Scan decompression architecture used for digital circuits. This is a method for a sequential logic testing, which converts sequential circuits in the connected combinational logic and flip-flops (DFFs), which are reordered in the chosen scan-chains. The test vectors are delivered to multiple scan-chains in parallel, which may cause the fault coverage loss. Therefore is very useful to find the configuration of the scan-chains, which maximizes the faults coverage and minimizes the test length. For this purpose, we use available test generation tools (ATPGs) - finally, I used ATPG Atalanta. The outcomes of the research are evaluated in the conclusion.